福澤　亮太　プロフィール

福澤　亮太 （ふくざわ　りょうた）　Ryota Fukuzawa

福澤　亮太

  • 学　　位

    博士（工学）

  • 所　　属

    東京大学工学系研究科電気系工学専攻

  • 役　　職

    助教

  • 生年月日

    1994年

Education

  • 15/3

    　国立富山高等専門学校　電気制御システム工学科卒業

  • 17/3

    　国立名古屋工業大学　工学部第一部　電気電子工学科卒業

  • 19/3

    　東京大学大学院　工学系研究科　電気系工学専攻修士課程修了

  • 22/3

    　東京大学大学院　工学系研究科　電気系工学専攻博士課程修了，博士（工学）

Honors and Research Awards

  • ACSIN-14 & ICSPM26 Young researcher award
  • 第46回（2019年春季）応用物理学会講演奨励賞
  • 第45回応用物理学会論文奨励賞

Recent representative publications and presentations

  • Ryota Fukuzawa, Daichi Kobayashi and Takuji Takahashi:
    “Accurate Electrostatic Force Measurements by Atomic Force Microscopy Using Proper Distance Control”
    IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 72, 1-8 (2023).
  • Kosuke Takiguchi, Le Duc Anh, Takahiro Chiba, Harunori Shiratani, Ryota Fukuzawa, Takuji Takahashi and Masaaki Tanaka:
    “Giant gate-controlled odd-parity magnetoresistance in one-dimensional channels with a magnetic proximity effect”
    Nature Communications 13 (1), 6538 (2022).
  • Ryota Fukuzawa, Liang Jianbo, Naoteru Shigekawa and Takuji Takahashi:
    “Quantitative capacitance measurements in frequency modulation electrostatic force microscopy”
    Japanese Journal of Applied Physics 61, SL1005 (2022).
  • Ryota Fukuzawa and Takuji Takahashi:
    “Peak-tracking scanning capacitance force microscopy with multibias modulation”
    Measurement Science and Technology 33, 065405 (2022).
  • Ryota Fukuzawa and Takuji Takahashi:
    “Dual Bias Modulation Electrostatic Force Microscopy on Cu(In,Ga)Se2Cu(In,Ga)Se2,”
    Proceedings of 47th IEEE Photovoltaic Specialists Conference (PVSC 47), 0394-0396 (2020).
  • Ryota Fukuzawa and Takuji Takahashi:
    “Direct imaging method of frequency response of capacitance in dual bias modulation electrostatic force microscopy,”
    Japanese Journal of Applied Physics, 5959, 078001 (2020).
  • Ryota Fukuzawa and Takuji Takahashi:
    “Development of dual bias modulation electrostatic force microscopy for variable frequency measurements of capacitance,”
    Review of Scientific Instruments, 9191, 023702 (2020).